ICDIP 2026

ICDIP 2026 состоится 24–26 апреля 2026 года в городе Сямэнь, Китай, и обозначена как 18-е мероприятие серии International Conference on Digital Image Processing. Конференция рассматривает цифровую обработку изображений как ключевой технологический слой искусственного интеллекта и компьютерного зрения, где важны и математическая строгость алгоритмов, и практическая применимость в системах сбора, улучшения и интерпретации визуальных данных. В официальной информации указано, что мероприятие проводится при поддержке Xiamen University и принимается School of Informatics Xiamen University, что задаёт академический стандарт подготовки программы и формата докладов. Серия ICDIP ведёт отсчёт с 2009 года и подчёркивает устойчивость профессионального сообщества, которое использует конференцию как регулярную площадку для представления результатов, сверки научных подходов и обсуждения новых направлений развития цифрового зрения и визуальной аналитики.

Тематика ICDIP 2026 охватывает широкий круг задач цифровой обработки изображений, связывая классические методы анализа сигналов с современными AI-подходами в computer vision. В описании конференции подчёркиваются прикладные области, где обработка изображений критична для качества решений: медицинская визуализация, автономное вождение, дистанционное зондирование, наблюдение и безопасность, а также сохранение культурного наследия, что отражает спектр от научных и инженерных задач до сценариев с повышенными требованиями к надёжности и интерпретируемости результатов. В качестве устойчивых исследовательских направлений упоминаются международные “горячие темы”, включая улучшение и восстановление изображений, анализ и извлечение признаков, подавление шумов, инфракрасная визуализация и цифровые водяные знаки, то есть задачи, напрямую связанные с качеством сенсорных данных, устойчивостью признаков, мультиспектральностью и контролем подлинности визуального контента. Для участников это означает, что конференция релевантна и авторам новых методов, и инженерам, выбирающим технологии для производственных систем контроля, мониторинга, навигации и визуальной аналитики.